半導(dǎo)體C-V特性分析儀TH511,TH512;通道:2(可擴(kuò)展至6);高偏置:VGS:0 - ±40V,VDS:0–200V;雙CPU架構(gòu),積分時(shí)間0.56ms;10.1英寸電容式觸摸屏,分辨率1280*800,Linux系統(tǒng);點(diǎn)測(cè)、列表掃描、圖形掃描(選件)三種測(cè)試方式;四寄生參數(shù)(Ciss、Coss、Crss、Rg)同屏測(cè)量及顯示;快速導(dǎo)通測(cè)試Cont;標(biāo)配2通道測(cè)試,可同時(shí)測(cè)試兩個(gè)器件或雙芯片器件,通道可擴(kuò)展至6通道,通道參數(shù)單獨(dú)保存;CV曲線掃描、Ciss-Rg曲線掃描;一體化設(shè)計(jì):LCR+VGS低壓源+VDS高壓源+通道切換+上位機(jī);快速充電,縮短電容充電時(shí)間,實(shí)現(xiàn)快速測(cè)試;自動(dòng)延時(shí)設(shè)置;10檔分選.
TH511
Ciss、Coss、Crss、Rg,點(diǎn)測(cè)、列表掃描,C-V圖形掃描(選配),測(cè)試頻率:1kHz-2MHz,VGS:0- ±40V,VDS:0-±200V,雙通道,可選配4/6通道
TH512
Ciss、Coss、Crss、Rg,點(diǎn)測(cè)、列表掃描,C-V圖形掃描(選配),測(cè)試頻率:1kHz-2MHz,VGS:0- ±40V,VDS:0-±1500V,雙通道,可選配4/6通道