超高速、高精度1kHz數(shù)字電容檢測(cè)計(jì)

適用于芯片、MELF、引線電容之測(cè)包機(jī)

 

●對(duì)應(yīng)CE規(guī)范

●搭載接觸檢知(CONTACT CHECK)功能

●測(cè)定時(shí)間:1.2msec

●微小電容到大電容廣泛范圍的測(cè)定檔位(20pF~200μF Range)

●測(cè)定頻率:1kHz±0.1%(正弦波形)

●五端點(diǎn)測(cè)量方式

●搭載微處理器輸出HI/GO/LO

●3位半(1999)數(shù)字顯示

●選配GP-IB或RS-232C(OPTION)

●搭載打印機(jī)輸出(搭載Centronics)

●即使測(cè)定中也可輸出測(cè)定値、δ、3δ、mas.、min.、日期、

    時(shí)間等數(shù)値至打印機(jī)