絕緣電阻測(cè)試儀
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產(chǎn)品名稱: 絕緣電阻測(cè)試儀
產(chǎn)品型號(hào): ST5520
產(chǎn)品展商: 日本日置HIOKI
產(chǎn)品文檔: 無(wú)相關(guān)文檔
簡(jiǎn)單介紹
絕緣(500/1000V)/ 耐壓(變壓器容量100VA)連續(xù)測(cè)試
絕緣電阻測(cè)試儀
的詳細(xì)介紹
實(shí)現(xiàn)了"高速"絕緣電阻檢查
● *快50ms的高速判斷
● 快速釋放殘留電壓
● 任意設(shè)置試驗(yàn)電壓值(25~1000V(1V分辨率)設(shè)置)
● 接觸檢查功能(防止由于接觸不佳造成的誤判斷)
● 短路檢查功能(防止不合格品流入市場(chǎng))
實(shí)現(xiàn)絕緣電阻檢查的“快速”
絕緣電阻測(cè)試儀ST5520是一款滿足了生產(chǎn)線上快節(jié)奏要求的產(chǎn)品。
*快50ms的快速判定
*快50ms的快速判定
以業(yè)界*快50ms的速度檢查完畢。與本公司以往機(jī)型相比速度提高了近700ms。
(※波形為9MΩ、10pF的被測(cè)物的檢查結(jié)果。)
高速自動(dòng)放電功能
高速自動(dòng)放電功能
檢查后的放電時(shí)間與以往機(jī)型相比大幅縮短。 同一條件下比較,也能實(shí)現(xiàn)990ms的工時(shí)的改善。
2種接觸檢查
2種接觸檢查
4端子連接時(shí)和2端子連接時(shí),有2種接觸檢查功能。
通過(guò)微短路檢測(cè)查提高檢查品質(zhì)
通過(guò)微短路檢測(cè)查提高檢查品質(zhì)
通過(guò)低電壓檢查準(zhǔn)確找出如微短路這樣因?yàn)楦邏簩?dǎo)致燒損設(shè)備的不佳現(xiàn)象。
測(cè)試項(xiàng)目
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絕緣電阻(直流電壓施加方式)
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測(cè)試電壓/測(cè)量量程
(手動(dòng)/自動(dòng))
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25 V ≦ V < 100 V
(2.000/20.00/200.0 MΩ),
100 V ≦ V < 500 V (2.000/20.00/200.0/2000 MΩ),
500 V ≦ V ≦ 1000 V (2.000/20.00/200.0/4000/9990 MΩ)
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基本精度
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±2 % rdg. ±5 dgt.
25 V ≦ V < 100 V [0~20 MΩ],
100 V ≦ V < 500 V [0~20 MΩ],
500 V ≦ V ≦ 1000 V [0~200 MΩ]
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測(cè)試速度
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FAST:30ms/次,SLOW:500ms/次(切換)
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顯示屏
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LCD (壽命100,000小時(shí)),背光燈4階段
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存儲(chǔ)功能
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保存內(nèi)容:額定測(cè)量電壓、比較器上下限值、測(cè)試模式、判定時(shí)蜂鳴音、測(cè)試時(shí)間、響應(yīng)時(shí)間、電阻量程、測(cè)量速度
存儲(chǔ)數(shù):*多10組(可保存/讀取)
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測(cè)試模式
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連續(xù)模式、PASS STOP模式、FAIL STOP模式、強(qiáng)制結(jié)束時(shí)判定模式(切換)
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比較設(shè)置
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UPPER_FAIL:測(cè)量值≧上限值
PASS: 上限值>測(cè)量值>下限值
LOWER_FAIL:測(cè)量值≦下限值
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判定處理
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蜂鳴音、PASS/U.FAIL/L.FAIL 的LED 燈亮,UL_FAIL時(shí)U.FAIL/L.FAIL同時(shí)燈亮,EXT. I/O 輸出、通過(guò)RS-232C獲取判定結(jié)果
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試驗(yàn)時(shí)間計(jì)時(shí)器
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0.045 s ~ 999.999 s(0.001 s 分辨率),從施加電壓到判定合格與否的時(shí)間
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響應(yīng)時(shí)間計(jì)時(shí)器
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試驗(yàn)開始后,禁止按照0.005 s ~ 999.999 s(0.001 s 分辨率)設(shè)置比較器判定動(dòng)作的時(shí)間
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模擬輸出
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DC +4 V f.s.
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接口
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RS-232C(標(biāo)配),外部I/O(外部控制器用輸入,判定結(jié)果輸出),BCD輸出(**ST5520-01)
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電源
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AC100 V ~ 240 V,50/60Hz,*大25VA
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體積及重量
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215W×80H×166Dmm,1.1kg
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附件
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使用說(shuō)明書×1、電源線×1、EXT.I/O連接器×1、連接器蓋×1
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